جزوه روش های نوین آنالیز مواد دانشگاه صنعتی امیرکبیر

جزوه تایپی روش های نوین آنالیز مواد

تدریس شده توسط  دکتر پیروز مرعشی در دانشکده معدن و متالوژی دانشگاه صنعتی امیرکبیر

درس “روش های نوین آنالیز مواد” جزو دروس رشته مهندسی معدن، مهندسی مواد، سرامیک و مهندسی شیمی می باشد. جزوه ای که در اینجا آورده شده است خوانا و با کیفیت اسکن شده است. برخی از عناوین مطرح در این جزوه در ادامه آمده است :

میکروسکوپی با نور و الکترون، روش های تشکیل تصویر، قدرت تفکیک، عمق میدان و عمق فوکوس، میکروسکوپ نوری، تولید پرتوی الکترونی، عدس های مغناطیسی، پراش الکترون ها توسط اتم ها، پراش فونون، الکترون های ثانویه، آرامش اتم های تهییج شده، میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM ، زمان تقریبی آزمایش، تفنگ الکترونی، سیستم تمرکز کننده، عدسی های میانی و شیئی، بخش زیرین دوربین، همراستا نمودن تصویر، آماده سازی نمونه برای TEM ، الکتروپولیش و پولیش شیمیایی، پولیش مکانیکی، سایش یونی و اتمی، استفاده از رپلیکا، میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی STEM ، میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM ، بدست آوردن سیگنال در SEM ، آشکار سازی الکترون های ثانویه، آشکار سازی الکترون های برگشتی، آشکارساز های جرقه زن، قدرت تفکیک نهایی SEM ، تصاویر توپوگرافی، آماده سازی نمونه جهت بررسی در SEM ، میکروسکوپ الکترونی روبشی محیطی ESEM ، میکروسکوپ های پروبی روبشی، میکروسکوپ تونلی روبشی STM ، میکروسکوپ نیروی اتمی AFM ، میکروسکوپ نیروی مغناطیسی MFM ، میکروسکوپ اپتیکی SNOM ، پراش پرتوی ایکس، اجزای دستگاه XRD ، مبانی فیزیکی پراش، محدودیت های XRD ، کاربردهای XRD ، وضعیت تابش پرتوی ایکس روی نمونه، وضعیت تابش پرتوی ایکس روی نمونه، طیفسنجی فلورسانس پرتوی ایکس، آشکارسازی پرتوی ایکس ثانویه، طیف سنج پراکننده طول موج، طیف سنج پراکننده انرژی، EDS یا EDX ، آنالیز اندازه ذرات به روش پراکندگی لیزر، پراکندگی دینامیکی نور، پراکندگی استاتیکی نور، کاربردهای آنالیزور های لیزری، طیف نگاری رامان، کاربردهای رامان، زیف نگاری فوتوالکترون پرتوی ایکس، مبانی فیزیکی XPS ، اجزای سیستم XPS، محدودیت های XPS، اندازه گیری زاویه تماس و کشش سطحی، پدیده ترشوندگی، معادله یانگ، روش های اندازه گیری کشش سطحی، روش قطره چسبیده، روش قطره معلق، روش صفحه-ویلهلمی، بیضی سنجی، محدودیت های بیضی سنجی، کاربرد بیضی سنجی